如何有效检测IC零件Pin high?

本帖最后由 tangent0525 于 2011-11-3 21:48 编辑

先讲一下背景：
产线关键检测站别：AOI----VI-----X-ray------ICT-----FCT
其中ICT和FCT乘起来算作FPYR，即FPYR=YR（ICT）*YR（FCT）

现在的问题就是，发现IC零件Pin high经常导致ICT和FCT NG，影响良率。
大家有什么办法能在之前的检测站别卡到这个问题？
谢谢~~