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cpk/cmk的问题

有几个问题不明白,再来问一下,希望坛子里的兄弟姐妹们给予解答:
1、CPK正常生产过程中使用的上、下控制限应是控制用控制限,而不是分析用控制限吧?控制限是来源于初期的PPK计算得来的控制限吗?
2、CPK取样子组内的数据应该是连续抽样吧?如果是非连续的抽样可以吗?
3、在新设备的验收CMK时,所用计量器具应该先做MSA分析,通常一般只做GR&R分析就可以吧?另外,量具做MSA时所用的零件取自本台新设备吗?还是在其它设备生产出来的零件做完MSA后直接用来检测新设备生产出的零件?数据采集过程中需要剔除异常数据吗?
4、CMK的研究中数据采集过程中是否剔除异常原因导致的数据?如果采集的数据进行直方图和正态检验有异常该如何进行改进?

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1、CPK正常生产过程中使用的上、下控制限应是控制用控制限,而不是分析用控制限吧?控制限是来源于初期的PPK计算得来的控制限吗?
控制用控制图的控制限,应来源于分析用控制图。对生产过程的SPC应用,需要先做分析用控制图,再做控制用控制图。
2、CPK取样子组内的数据应该是连续抽样吧?如果是非连续的抽样可以吗?
组内连续,组间有时间间隔。
3、在新设备的验收CMK时,所用计量器具应该先做MSA分析,通常一般只做GR&R分析就可以吧?另外,量具做MSA时所用的零件取自本台新设备吗?还是在其它设备生产出来的零件做完MSA后直接用来检测新设备生产出的零件?数据采集过程中需要剔除异常数据吗?
是否需要确认其它三特统计特性(稳定性、线性、偏倚)的能力,需要根据情况。样件不需要取自该设备,但应该是极限样品。
4、CMK的研究中数据采集过程中是否剔除异常原因导致的数据?如果采集的数据进行直方图和正态检验有异常该如何进行改进?
因是短时间研究,有异常通常是不能接受的。需要改进过程,再分析。

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