请教:关于生产测试USB效率影响过程变异来源分析,希望能给点建议

现在我在搞一个PC主机制程测试改善项目,想到对USB测试这一块改善一下,因为涉及到现在我们使用的测试工装和测试方案作一些改进,从专业的角度来说,我想用ANOVA进行一下USB测试效率低的原因分析,现在我想了想分组,用机型(每个机型的USB数量和位置不一样)来分,但好象下面就很难再分下去了,数据也比较难收集,各位有经验的大虾给点建议吧,最好是有主机制造经验的同仁给点经验,谢谢了.