CPK与检具公差设计

本帖最后由 Huckfinn 于 2012-6-12 10:56 编辑

LZ的方法用的有点问题：首先要确认，你目前是处在什么阶段， 初始制程能力评估， 还是在制程管控阶段
一， 如果是初始制程能力评估阶段， 此法行不通
二， 如果是制程管控阶段， 是进行SPC管控， 还是全检？
a,你实际的制程能力是多少， 制程平均值是多少， 能否达到客户的要求？
b,设计检具的目的是是什么， 全检吗？ 全检的话， 没有必要考虑Cpk， 直接根据尺寸的公差设计夹具就可以了。
c，如果是进行SPC管控的话， 检具通止规是不能满足要求的， 通止规属于计数型系统， 考虑CPk的话，考虑的计量型系统。

以上意思说明白了， 通止规不是这么来用的。