请教：单边公差的Cpk如何计算？
零件认可要做Cpk, 有的尺寸是单边的，比如线跳动，表面粗糙度等，测出来的数据呈现为指数分布或者Weibull分布，而非正态分布，Cpk作为表征过程能力的指数是基于正态分布来计算的，一定的Cpk的值对应一定的不良发生概率，我想知道对于指数分布的数据如果也套用Cpk的公式，得出来的Cpk的值和正态分布数据所得出的Cpk的值是否可以横向比较，也就是说他们的Cpk是否都对应着相同的不良概率？单边公差的能力计算公式又是什么？
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proficient (威望:4) (北京 北京) 计算机相关 经理 - 质量管理，统计过程控制，SPC工具
赞同来自: chenxn2th
您说的非常正确，Cpk值用于估算不合格率的基础是通过将数据分布曲线拟合成为正态分布曲线，求积分算出的值。不合格率也仅仅是一个估计值，估计的准确程度完全依赖于曲线的拟合度。如果您有大量数据证明您的数据是服从指数分布或其他非正态分布，可以通过如Johnson转换，转换后再计算；另外，数据转换后用控制图监控过程的稳定性，更利于发现过程异常。
总之，基于不合格率估计值产生的源头是一个假定的数学模型，因此，无论如何它的准确性是比不上全检的结果。个人认为，不可以太迷信Cpk值。
单边公差Cp、Cpk的计算：
单侧公差的Cp=Cpk= 较小值（（均值-LSL）/(3sigma)；（USL-均值）/(3sigma)）
PS: 以上答案参考盈飞无限（InfinityQS）技术文档。