基于过程变差的GRR

鄙人新手，有几个问题，望各位大师帮忙解答！
一、 貌似上次在网上看到有人说，做重复性和再现性分析时，基于过程变差的%GRR=GRR/TV，如果不合格时，得出的结论可能是：
1、该测量系统精度不够，导致GRR过大，%GRR过大
2、制程太好，导致PV太小。该测量系统精度跟不上。
那我们这时如何判断到底是精度不行还是该制程太好？

二、如果基于公差%GRR=GRR/(T/6)，如果是这种情况：假设一个分辨力不足的测量系统，做GRR时，由于分辨力不足分辨不出设备变差EV和人员变差AV，那GRR就很小，%GRR结果确很好？ndc也很大，得出的结果却是该系统分辨力很好？
那这跟前面的假设真好互相矛盾啊！！
这是怎么回事？是不是我哪里理解错了？？

求指点迷津啊