project yield 是怎样定义的一个评价良率标准，求解答
Apple 提供的SPC测量报告中有对所测尺寸良率进行评价，所使用非良率=良品数/测量数，而是有一堆复杂计算公式得出的project yield,为何以此为评价标准，而非CPk或PPK呢？请高手帮忙解一下疑惑
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pzwsnow (威望:4) (浙江 嘉兴) 电子制造 工程师 - 看足球，看美剧~~
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