SPC手册中的一些疑问
D． 过程能力解释
继续使用图18的例子来讨论下列假设下的过程能力的解释：
•过程处于统计稳定状态；
•过程的各测量值服从正态分布；
•工程及其它规范准确地代表顾客的需求；
•设计目标值位于规范的中心；
•测量变差相对较小。
在SPC手册中有这样一段话，请问大神们这里边的统计稳定状态是什么意思？和各测量值服从正态分布之间有什么区别？
还有就是测量变差相对较小，这个相对较小的量是怎么判定的？是有公式可以计算吗？
继续使用图18的例子来讨论下列假设下的过程能力的解释：
•过程处于统计稳定状态；
•过程的各测量值服从正态分布；
•工程及其它规范准确地代表顾客的需求；
•设计目标值位于规范的中心；
•测量变差相对较小。
在SPC手册中有这样一段话，请问大神们这里边的统计稳定状态是什么意思？和各测量值服从正态分布之间有什么区别？
还有就是测量变差相对较小，这个相对较小的量是怎么判定的？是有公式可以计算吗？
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5 个回复
ganlu606 (威望:10) (江苏 常州) 电子制造 工程师 - 没有介绍
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过程处于统计稳定状态, 是说测量点没有异常点，判定办法是SPC控制图中的几条准则，如没有点超过控制限等。
过程的各测量值服从正态分布，是因为SPC控制图是基于正太分布来分析的，控制图是将正太分布图形旋转得到的，所以正太分布这是前提。
测量变差相对较小，是基于MSA来说，因为你测量有误差，而测量误差会影响到SPC控制分析上去，判定准则基于MSA GR&R里的几条判定方法。
同时规格限（客户给的，或者是公司制定的标准）和控制限这两者不是一致的，可能你的数据是在规格限内的，但是这个数据不在控制限内，所以控制图会判异的。