工作中MSA的烦恼
不知道大家有没有做过LED测试的?LED测试主要是测试的电压,亮度和波长的。近期正在做测试机的年度分析,遇到些事情说出来,让大家帮忙出出主意,自己也发泄一下。
LED测试机测试亮度,波长为光学测试,按照工艺的说法亮度的设备误差为3%。
测试机需要分档,测试机需要把不同档位的LED给区分开,所以MSA用的方法就是6EV/tolerance 。大家觉得这个合适吗?
可是做的结果的很差, 工艺说和测试方法有关系,之前的方法为第一次10颗测完,测第二遍,再测第三遍;工艺说这样会有芯片的位移导致测试有误差,否认这样的方式,他们要第一颗测连续测试三次,再测第二颗,以此类推。。。这样做的坏处是根本没有盲测,看到数据异常,工艺直接可以重测可以调机,而且这样的方式也没办法与批量生产一致。其实这个测试真的很重要,按照这个测试数据发货给客户的。
举个例子,芯片的亮度规格65-70mcd,
测试一颗芯片的数据 67.8 68.5 67.1
。。。。。
结果算下来6EV/tolerance 在 30%左右,按道理说这个测试机台已经没能力有效辨识出这个芯片是否在这个范围内了。但是工艺的纠结在设备误差就有3%,也就是说+/-2,这样肯定会不合格。我的观点这样的机器就不能做这样的测试,但是工艺说他没办法,只能这样,大家遇到这样的情况该怎么样?已经跟他们的老大为这个吵起来了。
LED测试机测试亮度,波长为光学测试,按照工艺的说法亮度的设备误差为3%。
测试机需要分档,测试机需要把不同档位的LED给区分开,所以MSA用的方法就是6EV/tolerance 。大家觉得这个合适吗?
可是做的结果的很差, 工艺说和测试方法有关系,之前的方法为第一次10颗测完,测第二遍,再测第三遍;工艺说这样会有芯片的位移导致测试有误差,否认这样的方式,他们要第一颗测连续测试三次,再测第二颗,以此类推。。。这样做的坏处是根本没有盲测,看到数据异常,工艺直接可以重测可以调机,而且这样的方式也没办法与批量生产一致。其实这个测试真的很重要,按照这个测试数据发货给客户的。
举个例子,芯片的亮度规格65-70mcd,
测试一颗芯片的数据 67.8 68.5 67.1
。。。。。
结果算下来6EV/tolerance 在 30%左右,按道理说这个测试机台已经没能力有效辨识出这个芯片是否在这个范围内了。但是工艺的纠结在设备误差就有3%,也就是说+/-2,这样肯定会不合格。我的观点这样的机器就不能做这样的测试,但是工艺说他没办法,只能这样,大家遇到这样的情况该怎么样?已经跟他们的老大为这个吵起来了。
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