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SPC数据控制限大于公差线,制程如何改善?

公司测量了一组数据
I-MR控制图 控制限超过公差限;
数据不符合正太分布,经过Johnson 变换后,CPK值为0.48(唉……巨差)
问题
1.控制限超出公差限如何处理?
2.数据通过minitab计算的CPK值和计算公式得出的出入较大,应该以哪个为准?
还请不惜赐教,小弟先行谢过

附:数据,尺寸公差33+/-0.3mm
32.98
33.08
33.1
33.11
32.94
33.1
33.13
33.12
33.1
32.76
33.08
32.72
32.72
33.16
32.99
32.74
33.04
32.99
32.98
32.77
33.15
33.14
32.74
32.96
33.17
32.78
32.67
33.13
33.11
33.07
33.02
33.16
32.72
33.04
32.84
33.1
32.72
33.19
33.27
33.2
33.22
33.21
33.24
33.27
33.2
33.25
33.18
33.2
33.24
33.24
33.27
33.22
33.22
33.24
33.19
33.18
33.14
33.28
33.24
33.26
33.19
33.24
33.16
32.7
33.03
32.74
32.87
32.79
32.8
32.79
32.8
33.11
32.77
33.11
32.74
32.66
32.8
32.86
32.74
32.73
32.76
33.14
32.95
32.77
32.69
32.67
32.82
32.89
32.76
32.84
32.7
32.83
32.96
32.76
33.1
32.85
32.98
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roney11 (威望:3) (湖北 ) 电信通讯 经理

赞同来自: Y覆水难收

数据不仅不符合正态分布,通过检验发现,数据也不是独立的。根据理论,如此几乎失去所有讨论的理论基础。遇到这种情况的最好对策是重新审查数据的获得过程,确认究竟受到哪个不正常因素的影响,将此因素的影响消除,然后重新收集数据。

从Minitab生成的能力直方图看,似乎呈现的是“双峰”中间带“小岛”的分布,说明有数据混合、或混杂异常数据。
即数据本身已不可信,怀疑测量有问题或作假了,建议重新认真测量收集。

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发起人

king九幽
king九幽

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