量测工具精度选择及参照原则
在选择量测工具的精度时,一般都会选择被测尺寸公差带的十分之一为原则,比如被测尺寸为长度尺寸:10±0.1,这时会选择精度为0.01的卡尺就能满足要求。
这是我一直以来对量测工具精度选择的理解,但我遇到了一些麻烦,比如还是这个尺寸10±0.1,它是一个特殊特性尺寸,需要初始过程能力中的PPK达到1.67,而在实际应用中发现,即使过程本身的制程能力满足要求,但精度为0.01的卡尺测量得到的100组数据,正态性检验的P值会<0.05,数据不满足正态分布,而换用精度为0.001的千分尺再次测量,数据满足正态分布。
所以想问,针对一些特殊特性尺寸的量测工具的精度选择,具体的参照原则如何?应该不是传统的十分之一原则吧?
这是我一直以来对量测工具精度选择的理解,但我遇到了一些麻烦,比如还是这个尺寸10±0.1,它是一个特殊特性尺寸,需要初始过程能力中的PPK达到1.67,而在实际应用中发现,即使过程本身的制程能力满足要求,但精度为0.01的卡尺测量得到的100组数据,正态性检验的P值会<0.05,数据不满足正态分布,而换用精度为0.001的千分尺再次测量,数据满足正态分布。
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