MSA之变差系统原因的疑问
MSA手册第B节测量过程——测量系统——变差来源,阐述了如下一句(英文版见图1):
测量系统受到变差的随机因素和系统因素的影响。这些变差的来源是由普通原因和特殊原因造成的。
随机因素是测量系统的普通原因引起,如量具的重复性,同一量具每次测量的重复性都不可能一样。
偏倚的存在与否就是测量系统的系统因素引起的,偏倚是客观存在的,只是大小而已。
关于系统因素的理解,我仅知道这点,请各位指教!
谢谢!
测量系统受到变差的随机因素和系统因素的影响。这些变差的来源是由普通原因和特殊原因造成的。
随机因素是测量系统的普通原因引起,如量具的重复性,同一量具每次测量的重复性都不可能一样。
偏倚的存在与否就是测量系统的系统因素引起的,偏倚是客观存在的,只是大小而已。
关于系统因素的理解,我仅知道这点,请各位指教!
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