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关于X-R控制图

各位大佬,咨询个问题,首先申明个人是半吊子。
1每一张控制图收集数据制定的控制限  是否只针对本张图?
我学习的时候  老师是说  第一张图计算出的UCL LCL 是给接下来的制程做管控用的  
昨天 品质副总说   每张图收集数据时 按USL  USL 管控,  分析的时候每张图计算出UCL  LCL    把我给说蒙了。
2个别工序   数据直接mintab计算制程能力  CPK 很大1.6以上(规格公差很大) 数据也呈正态分布, 但是直接X-R控制图上表现出来  很多点超出UCL    LCL ,这是否可接受。
3.新产品研发阶段的PPK管控项目  是否要多于至少等于  量产阶段的管控项目
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Macgrady (威望:242) (上海 上海) 电子制造 CI Specialist (APAC) - Lean & 6 sigma CI Sp...

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question1:收集数据计算控制限的图叫诊断图,诊断通过后,这个控制限就是用于后面生产的“内控标准”(希望这么说你更容易懂),只要后续没有重新进行诊断,这个控制限是一致用下去的...
老师说的是对的,副总说的,我感觉你没表达清楚,不予置评...
question2:不能接受,你的Cpk大于1.6,但是异常点很多.说明的问题是你的产品有能力满足Spec,但是不能稳定持续的满足,即过程波动大,而SPC最核心的目的,就是为了发现波动,消除波动...所以,这里你只具备了进行SPC的基础,但真正的SPC需要做的,你还没开始...(你竟然以为结束了...我表示....)
queation3:在量产阶段不发生变更的情况下(因为变更了可能会新增管控点),NPI阶段跟MP阶段应该是一样的,只是有些特性你的制程能力很高,到了量产阶段发现没有进行SPC的必要,那样会导致后面的管控项目出现认为的筛减...
不是什么NPI阶段PPK项目应该要比量产阶段的多...

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