特性不稳定（接触电阻）如何做GRR
请教各位：
我们在做接触电阻GRR时，因产品接触电阻受各类环境和测试条件影响表现并不稳定，如果取覆盖过程的样品做GRR的时候会表现EV非常大，如果用覆盖过程的标准电阻做GRR则表现非常好。虽然环境和测试条件属于测量系统因素，但我们不可能将触点表面清洗干净里面抽真空、无膜击穿电压、无电流焦耳热环境下测试，而且测试也并非手册所说的破坏性测试也不可能预知哪些样品接触电阻非常接近（破坏性GRR推荐的方法），这种情况我们到底是用实际样品来评价结果测量系统不合格，还是用标准电阻评价结果测量系统非常好呢？
我们在做接触电阻GRR时，因产品接触电阻受各类环境和测试条件影响表现并不稳定，如果取覆盖过程的样品做GRR的时候会表现EV非常大，如果用覆盖过程的标准电阻做GRR则表现非常好。虽然环境和测试条件属于测量系统因素，但我们不可能将触点表面清洗干净里面抽真空、无膜击穿电压、无电流焦耳热环境下测试，而且测试也并非手册所说的破坏性测试也不可能预知哪些样品接触电阻非常接近（破坏性GRR推荐的方法），这种情况我们到底是用实际样品来评价结果测量系统不合格，还是用标准电阻评价结果测量系统非常好呢？
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erg (威望:30) (广东 深圳) 电子制造 主管
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