请教关于spc 控制控制图的控制界限的计算方法
Xbar--R控制图,在分析阶段,控制图-X图的界限计算公式:Xbar-bar±A2*Rbar ;过程控制阶段,控制图-X图的界限:是分析控制图的界限?还是根据以往数据根据: Xbar-bar±3σ这个公式计算得到控制界限?
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ScharnHorst (威望:21) (重庆 重庆) 电子制造 工程师 - 质量体系/质量工具/六西格玛
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首先回答问题,用A2*Rbar。
想完全弄清楚这两种算法的本质和区别,要去翻统计学教材。这里简单地说明一下吧,为了做到无偏估计,就像我们计算样本方差需要把分母从n修正成n-1一样,计算标准差也需要进行一个修正。
六西格玛教材上面讲到的对于标准差的估计有两种方法,一种是基于极差,一种是基于样本标准差。正好就是你提到的这两种计算方法。但是它们在使用时都需要考虑修偏,具体怎么修不去管他,反正就是乘一个常数。在均值极差图的A2*Rbar里面的A2就可以理解成一种修偏行为。
为什么第二种算法直接用了3σ?不修偏的前提就是样本量n大于30,这时修偏系数约等于1,所以能直接用。
在SPC的实际运用上,我们有Cp和Pp两个过程能力指数,这两个指数刚好对应了这两种算法。Cp是短期能力,着重考虑组内变差,因此我们使用Rbar来计算,Pp是长期能力,考虑组间变差,因此我们用σ来计算。
最后我还是想谈谈SPC工具,根据我的经验,一般来说最开始只需要激活一两条判异准则就够用了。准则太多他疯狂报警,改善工作根本无从下手,而且误发警报的概率也大。特别是后面几条,都是基于正态分布假设来的,一定要慎用(反正我就不会去用)。