电子技术产品中的管制物质含量测定程序系列之Hg测试

电子技术产品中的管制物质含量测定程序系列之Hg测试

使用CVAAS,AFS以及icpaes/ms测定聚合物材料、金属材料以及电子元件中的Hg

本文件提供电子技术设备中所用材料中的hg的含量的测试程序。这些材料是聚合物材料、金属材料和电子元件（印刷电路板、冷阴极荧光灯，水银开关）。含有Hg的电池必须按照电池工业中的“标准分析方法”来处理。
标准讲述使用四种方法（CVAAS, 冷蒸汽原子吸收光谱仪,AFS, AAS, ICPAES/MS）以及几个制备样品溶液的程序，这些程序可以有分析专家自行选择。
均匀研磨后的适当质量的样品在固定温度或者压力条件下的浓酸溶液中消解。消解完毕后，样品溶液必须储存在4摄氏度，以便减小挥发。要长期储存Hg的话，建议溶液中加入5%的硝酸和0.05%的重铬酸钾。
最后使用CVAAS,AFS, ICPAES,ICPMS来分析消解溶液中的Hg元素。对于AFS和ICPAES/MS，消解溶液必须立即分析。但是使用CVAAS技术的话，在其分析之前Hg将会还原到元素态。
要分析的样品必须在化学消解之前进行机械处理。慰劳满足正确分析的需求，本文中给出了样品颗粒的最大颗粒和最小量。很可能在消解完毕后溶液中存在残留物。必须确定使用不同的分析手段所得到的溶液没有含有目标元素在这些残留物中。本标准强烈简易使用成熟的设备来进行消解。但是如果用户确定相似的方法适合，那么也可以使用这种方法。所描述的程序得到的任何偏差度必须进行评估并且记录在测试报告中。
本程序建议由实验室助手和/或者技术工作员在有经验处理样品进行物机分析的化学工程师的指导下执行。
必须考虑以下部分：
A:许多Hg化合物在被吞噬、吸入、或者由皮肤吸收之后具有很高的毒性。必须非常小心处理浓的Hg试剂。由于在某些实验室环境中的Hg的危险性，所有实验室器皿以及样品收集工具必须处存在干净的无Hg的环境中。
B:在分析之前的所有的操作必须在抽风橱中进行。
C:必有有冷凝器来避免处理的时候的挥发
D:使用微波炉的时候，按照供应商的指导严格操作。

样品制备
测试部分
不同的分析程序，需要不同量的样品以便取得所需要品质的结果。在电子元件的时候，样品首先必须使用机械处理方法来破坏，然后才能进行化学溶解粉末。为了保证取得有代表性的样品，需要取得颗粒尺寸一定的样品。
所得到的浓的溶液可能直接用afs, icpaes和icpms来进行分析，消解溶液必须立即分析。使用cvaas技术的时候，在分析之前Hg会被还原到元素态。
湿法消解（消解金属材料和电子元件）
样品消解的一般方法和微波消解两种方法。