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Pp,Ppk,Cp,Cpk&Cmk 论述

  Cp:capability process
Cpk:capability process index
Pp:preliminary process
Ppk:preliminary process index
Cmk:capability machine index
Cp指数=规格宽度/工序宽度=(USL-LSL)/6 sigma

Capability of process 过程能力指数
Cp:我们能做的多好

Cpk:我们真正能做多好
Pp:过程性能指数

Pp:我们实际作到多好

Ppk:修正的过程性能指数,Ppk:我们实际真正作到多好

Cpk或Ppk:你应该用哪一个?
你们的客户会要求你们汇报你送出产品的Cpk值,要算出Cpk值,你必须要有产品规格,平均值及标准差(σ值),当你把这些收集后,有人就会问”需要哪个σ值呢?”
Cpk是通过规格除3个标准差所计算出来的值,但使用哪一个σ值,估计值还是计算出来的呢?哪一个是正确的?向客户汇报哪个值呢?一般我们大多数人使用Cpk看来比较好的那个值.但是,这个看来比较好的值可能并没有精确的反映你们客户所需要知道的制程.
两种不同的方法计算Cpk值产生混乱的一个原因就是新发展了Ppk值,Ppk使用各个个体数据与均值的离差的σ计算值.
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junxunguo (威望:1)

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------AWENCG 2003/9/21

Q(X)-Q(S)控制图的理论基础与作图 
------Awencg
 
  SPC技术是当今最流行的一种质量控制和改进方法,它主要运用各种类型的控制图对过程进行监控,X-R,X-S控制图由于具有适用范围广、检出异常的能力强等特点被广泛使用于质量特性值是计量型数据的过程控制.使用这两类控制图,若过程参数未知,则进行在线控制之前要求获取不少于25样本、每个样本的样本大小为4或5的测量数据(观测样品),这表明在小批量生产和大批量过程(生产)的开始状态下,要进行实时控制,使用X-R,X-S控制图在技术上存在困难.因为即使批量很大,由于要获得理想的均值和标准偏差的估计值必须收集大量的数据,控制图控制线在确定之前,已经生产了许多产品.鹊森伯里(Chares P . Quesenberry)在九十年代提出Q控制图,用以解决小批量生产以及大批量、过程刚开始时的过程控制.Q(X)-Q(S)控制图用于控制计量型数据过程的均值和样本方差,包括Q(X)一样本序号i图和Q(S)样本序号i图.

.Q(X)-Q(S)控制图的理论依据是基于两个总体的均值和两总体方差的显着性检验,将前i-1个样本和第i个样本看作为两个总体.因这两个总体实际上是来自于同一个整体的,故此可知总体的均值和方差是相等的.但具体数值为多少是未知数,这些条件是符合两个总体均值显着性的检验,和两个总体方差显着性的检验.这样检验前i-1个样本的统计量和第i个样本统计量的显着性,如果它们有显着性就说明第i个样本已发生了显着的差异,从而判断工序的稳定以否.

当检验总体的均值统计量时,检验前i-1个样本的均值与第i个样本的均值是否有显着性差异,如差异显着性,说明第i个样本的均值已发生了变化 ,即统计量

,其中:

当检验总体的方差统计量时,检验i-1个样本的平均方差和第i个样本的方差是否有显着性差异,如差异显着,说明第i个样本的方差已发生变化 ,统计量



据以上两总体均值和两总体方差检验的统计量(t,F)与Q控制图两统计量 (Wi,Yi)的比较,两者是一致的.

Q(X)-Q(S)控制图的统计量看起来虽然很复杂,用手工完成难以想象,但用电子表格Microsoft Excel可以轻易实现,方法如下:

1> 建立表格式样,并以Q(Xi)和Q(Si)两行作为数据来源插入图表:


2> 在相应的单元格内输入公式(注意公式前一定要加等号”=”):


3> 在样本栏项输入数据:

为使图形显示空间足够大,将一些不必需的行隐藏(设行高为0),同时为防范误改公式,需要将相关的公式单元格保护:选定要保护的单元格→格式→单元格→保护→锁定(需输入资料的单元格不能选锁定)→确定→再选工具菜单→保护→保护工作表→选定:内容/对象/方案→输入密码(亦可不输入)→确定.即可完成!


附一,公式的验证方法:

将<<Q控制图>>中表1例1 Q控制图计算数据中的样本均值的数据按顺序输入表格Xi行各单元格; 将样本方差的数据按顺序输入表格Vi行各单元格.比对Q(Xi)和Q(Si)应与表格中的Q(Xi)和Q(Si)一致.

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