PPK/CPK计算前提疑问
SPC手册第二版第四章—第B节：能力测量必须满足的最低要求，过程数据中的单个测量值构成近似的正态分布。
1、是否可以理解为，在计算PPK前必须进行正态性检验。
2、PPK不需要过程稳定，在初期阶段（过程不稳定）大概率不符合正态，是否不能计算PPK。
3、CPK的计算前提是否应当同时满足过程稳定及正态分布。
4、过程稳定和正态分布是否有必然联系。
请指点，感谢！
1、是否可以理解为，在计算PPK前必须进行正态性检验。
2、PPK不需要过程稳定，在初期阶段（过程不稳定）大概率不符合正态，是否不能计算PPK。
3、CPK的计算前提是否应当同时满足过程稳定及正态分布。
4、过程稳定和正态分布是否有必然联系。
请指点，感谢！
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Macgrady (威望:242) (上海 上海) 电子制造 CI Specialist (APAC) - Lean & 6 sigma CI Sp...
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---不必
2、PPK不需要过程稳定，在初期阶段（过程不稳定）大概率不符合正态，是否不能计算PPK。
---能
3、CPK的计算前提是否应当同时满足过程稳定及正态分布。
---是
4、过程稳定和正态分布是否有必然联系
---否
PP的P 是performance，参与计算的标准差是实算值，既然是当前performance，就对过程的状况是否很好没有强制的要求...因为其目的仅仅是看看当前的状况如何，反应真实情况...
CP的C 是capacity，参与计算的标准差是一个估计值，样本标准差用来估计总体标准差，正态分布是理论基础；另外，既然是以样本来估计总体，那对这个样本是有要求的...即受控... 不受控谈何预估...
以上就当抛砖引玉吧...