关与ndc的计算

我试试


这个应该是关系到测量系统分辨率的一个问题,说起来可能要麻烦点
由于测量的误差存在,测量值应该是一个服从平均值XT(目标)+B(误差中心),
方差为σm的正态分布

如果对两个零件进行测量,两个零件的特征值XT1>XT2,测量系统进行
测量的过程中如果出现XT1<XT2,这样的话,自然形成了错误分类,如果我们
分析出现这个错误的概率,导入新的随机变量XN=X1-X2,服从平均值XT1-XT2
方差(σn)^2= (σm)^2+ (σm)^2= 2(σm)^2的正态分布

如果XN<0,发生错误分类,所以在XN<0时的概率
密度函数下的面积P便是错误分类的概率,可以看出,
当XN,越大,发生错误的机会越小,如果XN=3 σn
时,P=0.00135,错误分类概率已经很小,自然XT1-XT2
=3 (2)1/2* σm, 一般把XT1-XT2定义为测量系统的
分辨率,意义在于,如果不同产品特性之间的差异在
3 (2)1/2* σm,以上的时候,测量系统对他们错误分类
的概率小于0.00135
一般来说,产品的过程参数为6 σp, 那么测量系统可以把
产品区分的等级计算公式就是:( 6 σp)/分辨率= ( 6 σp)/ 3 (2)1/2* σm
=(2)1/2* σp/ σm
也就是产品变差和GRR的比值的根号2倍.