CPK高当过程不稳该怎么处理？
这几天测了一个工序，结果如下：
规格公差在0~0.013，用千分表测量。
测出来的值都在0.004～0.008之间，应该说还可以，
可是控制图发现过程不稳定，但cpk、ppk的值确不低，象这种情况按照常理来说首先就是调整过程，是过程稳定，但是仔细看看发现控制限离规范限还有蛮大的距离，就是过程不稳定，我的数据点，不管是超出还是没有超出控制限的点离规范限还是有一段距离，老板就说了，数据这么集中，基本集中在公差带中心，如果还调整过程，成本太高，但不调整，控制图就会一直的出现异常。
请问大家该怎么调整呢？是哪里出现问题了？
这个问题以前问过，可是还不是很明确，哪位高人指导一下！
规格公差在0~0.013，用千分表测量。
测出来的值都在0.004～0.008之间，应该说还可以，
可是控制图发现过程不稳定，但cpk、ppk的值确不低，象这种情况按照常理来说首先就是调整过程，是过程稳定，但是仔细看看发现控制限离规范限还有蛮大的距离，就是过程不稳定，我的数据点，不管是超出还是没有超出控制限的点离规范限还是有一段距离，老板就说了，数据这么集中，基本集中在公差带中心，如果还调整过程，成本太高，但不调整，控制图就会一直的出现异常。
请问大家该怎么调整呢？是哪里出现问题了？
这个问题以前问过，可是还不是很明确，哪位高人指导一下！
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23 个回复
蚂蚁 (威望:8) (广东 深圳) 咨询业 咨询顾问
赞同来自: SWT
从你的图形分析来看，由于异常原因的出现，使得你的过程波动有变大的趋势（从后半部分图形超界的情况判断），也就是说，在整个数据的收集周期中，你的系统很有可能已经发生了变化，这时仍然联合前半部分的数据（从图上看较稳定）来计算能力就有些显得不妥。
建议：
1。从出现异常点的时间段起查找原因。
2。从出现异常点后的时间开始，补充收集数据，重新计算控制线看是否稳定。
3。如果后半部分数据加上补充收集的数据呈现稳态，再重新计算能力情况，这时的能力作为分析和改进的依据才显得合理。Y:
问题的关键是后半段数据的连续超出界限！