CD只读类光盘参数综述
◆测试数据组成
1、静态参数--SLD、SPD、MID、ECC参数对每张光盘均只测一次,SVY和TRP参数在信息区测十点
2、垂直参数—DEV、 DEFL参数在光盘节目区测十点,这两个参数均与光盘垂直方向的变形有关
3、其他参数—PP、 PPC和XT参数同样是在光盘节目区测十点,与光盘的窜扰特性有关
4、测试参数—BLER、 E11~E32、 I3、 I11、 I3R、 I11R、 REG、 SYM 、BERL、 CRC、 RN 、BEGL、 E32tot参数在光盘节目区连续测试,这十八个参数每秒钟记录一次。
◆ 测试参数:
SLD: START LEAD IN (导入开始直径,倒入区旗电)必须小于46mm.
SPD: START OF PROGRAM DIAMETER(节目开始至今,节目区起点直径)必须在49.6mm与50.0mm之间。
MID: MAXIMUM INFORMATION DIAMETER(最大节目区直径)必须小于116mm。
SVY: SCANNING VELOCITY(扫描速度)必须保持在1.2~1.4m/s之间。
TRP: TRACK PITCH(道间距)实相邻两条轨道中心线之间的距离,TRP必须保持在1.5~1.7微米范围内。
ECC: ECCENTRICITY(偏心率)是用来测量信息轨道的几何中心与光盘的几何中心孔之间的分离程度。对CD,ECC规格是+/-70微米。对于CD-ROM,ECC最好地于+/-50微米。
PP: PUSH PULL(推挽信号)是测量驱动器保持轨道跟踪的难易程度(轨道跟踪信号)。PP按PP/I-TOP计算。PP太低会产生跟踪问题:太高会使径向四伺服饱和,产生轨道锁定问题。正常值为0.04~0.09。
PPC: PUSH PULL FOR CIRCULAR POLARIZED LIGHT(圆偏振光的推挽信号)是根据PHILIPS测试换算数据由线偏振光测试值计算出来的。对经刻录的光刻胶光盘进行测试,能得到预期的最好的相关结果。
XT: CROSS TALK(窜扰)测试的是高频信号中噪音的含量。XT必须低于50%。高得XT是高频信号变形,从而使BLER增大。
E22: E22表示出一个大的错误或很严重的族错误引起第二纠错译码器(C2)中一个双字符可纠正误码。如果E22始终存在,光盘就可能出现不可纠正误码。而且没有给用户留下多少纠正误码的余地。对于CD-ROM必须小于15个。
E32: E32标示在C2译码器中出现的不可纠正误码或在光盘中存在不可读数据。在CD中不允许出现E32。
I3/I11: I3和I11(高频幅度)是通过与已知参考光盘上的信号电平进行比较来测量的。I3至必须保持0.3~0.7之间。光盘生产中产生的划痕和指印会减弱I3 I11的信号,I3 I11太低会出现解码问题。
I3R/I11R: I3R和11R按I3/Itop比值和I11/Itop比值计算。I3R和11R的测量使得有可能区分出有与凹坑变形引起的幅度变化与由于基片和反射层的吸收引起的幅度变化,测量是用反射率归一化。
REF: REFLECTIVITY(反射率)是利用好的参考盘来进行校准的。
SYM: SYMMETRY(对称性)是一个带符号的值(当I3中心点低于I11中心点时,SYM为负)。
SYM规格是+15%到-15%。
◆ 垂直参数
DEV: DEVIATION(偏差)规格是+/-0.5mm.太高会产生聚焦问题。
DEFL: DEFLECTION(角偏差)指的是由翘曲引起光束的径向偏差。
◆ 测试数据
BLER: BLOCK ERROR RATE(块误码率)是测量至少出现一个错误数据(E11+E21+E31)数据块的数量。BLER用每秒出错率来表示,规格为每秒220个误码块。而CD-ROM<100.
CRC: CYCLE REDUNDARY CHECK (循环冗余检查)是对子码信息进行测试的。CRC表示每秒钟内可检测到CRC误码地块的数目。这个参数规格为每秒钟0到75个块之间。
RN: REDIAL NOISE(径向噪音)在500~2500HZ的频带中限制为30nm,当轨迹损伤时,RN就会出现。
BEGL: BURST ERRORS GREATER THAN LIMITS(超过上限的突变误码)上限规格为7。该测试记录7个或超过7个错块出现的次数。
◆ 高级参数
JITTER: 晃动I3 至I11的凹坑和台面的标准偏差和长度偏差,总共36个参数。
STANDARD DEVIATION
标准偏差就是对不同长度的凹坑和台面而分别测量其JITTER,每个凹坑和台面都被测量,然后根据PHILIPS标准,用统计法计算出他们的标准偏差。对于每个凹坑和台面,JITTER必须小于35ns。
LENGTH DEVIATION
长度偏差就是测量每个凹坑和台面的长度,然后与理想的凹坑和台面的长度相比较,结果显示位于理想凹坑和台面的长度的偏差。奥坑和台面的理论长度定一位n*231.4。
1、静态参数--SLD、SPD、MID、ECC参数对每张光盘均只测一次,SVY和TRP参数在信息区测十点
2、垂直参数—DEV、 DEFL参数在光盘节目区测十点,这两个参数均与光盘垂直方向的变形有关
3、其他参数—PP、 PPC和XT参数同样是在光盘节目区测十点,与光盘的窜扰特性有关
4、测试参数—BLER、 E11~E32、 I3、 I11、 I3R、 I11R、 REG、 SYM 、BERL、 CRC、 RN 、BEGL、 E32tot参数在光盘节目区连续测试,这十八个参数每秒钟记录一次。
◆ 测试参数:
SLD: START LEAD IN (导入开始直径,倒入区旗电)必须小于46mm.
SPD: START OF PROGRAM DIAMETER(节目开始至今,节目区起点直径)必须在49.6mm与50.0mm之间。
MID: MAXIMUM INFORMATION DIAMETER(最大节目区直径)必须小于116mm。
SVY: SCANNING VELOCITY(扫描速度)必须保持在1.2~1.4m/s之间。
TRP: TRACK PITCH(道间距)实相邻两条轨道中心线之间的距离,TRP必须保持在1.5~1.7微米范围内。
ECC: ECCENTRICITY(偏心率)是用来测量信息轨道的几何中心与光盘的几何中心孔之间的分离程度。对CD,ECC规格是+/-70微米。对于CD-ROM,ECC最好地于+/-50微米。
PP: PUSH PULL(推挽信号)是测量驱动器保持轨道跟踪的难易程度(轨道跟踪信号)。PP按PP/I-TOP计算。PP太低会产生跟踪问题:太高会使径向四伺服饱和,产生轨道锁定问题。正常值为0.04~0.09。
PPC: PUSH PULL FOR CIRCULAR POLARIZED LIGHT(圆偏振光的推挽信号)是根据PHILIPS测试换算数据由线偏振光测试值计算出来的。对经刻录的光刻胶光盘进行测试,能得到预期的最好的相关结果。
XT: CROSS TALK(窜扰)测试的是高频信号中噪音的含量。XT必须低于50%。高得XT是高频信号变形,从而使BLER增大。
E22: E22表示出一个大的错误或很严重的族错误引起第二纠错译码器(C2)中一个双字符可纠正误码。如果E22始终存在,光盘就可能出现不可纠正误码。而且没有给用户留下多少纠正误码的余地。对于CD-ROM必须小于15个。
E32: E32标示在C2译码器中出现的不可纠正误码或在光盘中存在不可读数据。在CD中不允许出现E32。
I3/I11: I3和I11(高频幅度)是通过与已知参考光盘上的信号电平进行比较来测量的。I3至必须保持0.3~0.7之间。光盘生产中产生的划痕和指印会减弱I3 I11的信号,I3 I11太低会出现解码问题。
I3R/I11R: I3R和11R按I3/Itop比值和I11/Itop比值计算。I3R和11R的测量使得有可能区分出有与凹坑变形引起的幅度变化与由于基片和反射层的吸收引起的幅度变化,测量是用反射率归一化。
REF: REFLECTIVITY(反射率)是利用好的参考盘来进行校准的。
SYM: SYMMETRY(对称性)是一个带符号的值(当I3中心点低于I11中心点时,SYM为负)。
SYM规格是+15%到-15%。
◆ 垂直参数
DEV: DEVIATION(偏差)规格是+/-0.5mm.太高会产生聚焦问题。
DEFL: DEFLECTION(角偏差)指的是由翘曲引起光束的径向偏差。
◆ 测试数据
BLER: BLOCK ERROR RATE(块误码率)是测量至少出现一个错误数据(E11+E21+E31)数据块的数量。BLER用每秒出错率来表示,规格为每秒220个误码块。而CD-ROM<100.
CRC: CYCLE REDUNDARY CHECK (循环冗余检查)是对子码信息进行测试的。CRC表示每秒钟内可检测到CRC误码地块的数目。这个参数规格为每秒钟0到75个块之间。
RN: REDIAL NOISE(径向噪音)在500~2500HZ的频带中限制为30nm,当轨迹损伤时,RN就会出现。
BEGL: BURST ERRORS GREATER THAN LIMITS(超过上限的突变误码)上限规格为7。该测试记录7个或超过7个错块出现的次数。
◆ 高级参数
JITTER: 晃动I3 至I11的凹坑和台面的标准偏差和长度偏差,总共36个参数。
STANDARD DEVIATION
标准偏差就是对不同长度的凹坑和台面而分别测量其JITTER,每个凹坑和台面都被测量,然后根据PHILIPS标准,用统计法计算出他们的标准偏差。对于每个凹坑和台面,JITTER必须小于35ns。
LENGTH DEVIATION
长度偏差就是测量每个凹坑和台面的长度,然后与理想的凹坑和台面的长度相比较,结果显示位于理想凹坑和台面的长度的偏差。奥坑和台面的理论长度定一位n*231.4。
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