过程能力分析的两个前提的困惑？

我们都知道，做过程能力分析有两个前提：
1.数据正态分布（如果不是正态分布的话只能做非正态分布的过程能力分析，例如使用威布尔模型）
2.过程受控。

第一点我们暂且去满足它。至于第二点，在实际应用中，如果想做某周的过程能力分析，首先，我拿出该周的测量数据，检查这些数据在Xbar-R图（或者其它图）上是否受控（即是否有异常点），那么问题来了,该Xbar-R图上的上下控制限取值可能有如下这些方式：
a.从这些测量值上计算得出
b.直接使用监控用的上下控制限值（即控制图上的上下控制限）

请问，应该使用a还是b？请叙说一下理由吧？很困惑。
谢谢！