我把这个置顶了，大家看不到，基础知识 请参看

一点点基础，请参考，斑竹第一帖

可靠性：产品在规定条件下和规定时间内，完成规定功能的能力
是一种对产品投入使用时无故障工作能力的度量
可靠度：产品在规定条件下和规定时间内，完成规定功能的概率
失效率：产品在单位时间内失效的概率（元器件 适用)
平均无故障工作时间：产品无故障工作时间的平均值
可靠性石对事物认识的水准而不是事物的 本来状态，对一个产品谈不上可靠性，而是一批或多批相同的产品
可靠性 具有统计的特性
可靠性具有时间的特性
可靠性具有综合的特性（可靠性数学/失效物理学/试验技术/试验分析技术/元器件工程/可靠性设计管理）
失效是内因和外因共同引起的失效
环境条件：气候、机械、生物、化学、电与电磁、辐射、系统连接、人

典型环境对元器件的影响
1、机械震动
频率：50~2000Hz
2、低温 材料变脆、收缩，密封胶硬化，后果 石英晶体部震荡等
3、高低温循环 产生剧烈的膨胀与收缩，产生内应力，产生交替的冷凝冻结和蒸发，引起元件电性能变化
4、湿热交替 水汽凝聚，吸收水分，金属腐蚀，化学性质变化，结果使绝缘电阻降低，介电常数增大，表面电阻增大，接触不良
5、低气压 空气抗电强度降低，空气介电常数减小，散热困难，已发生密封外壳变形，焊缝开列等
6、灰尘和沙 静电荷增大，吸附水分，接触不良，加速金属腐蚀

可靠性试验 为评价分析产品的可靠性而进行的试验


寿命浴盆曲线
1)早期失效区(老炼期)
此阶段中由于存在早期失效，失效率较高。产品的失效率随时间的增长而迅速下降。
2)偶然失效区(使用寿命期)
时间长，产品的失效率低，并且稳定为一个常数
3)耗损期（衰老期）
元器件开始老化产生老化失效，失效率较高
产品失效率随时间增加而增加，表现为机械零件损坏，元器件大量衰老。
可靠性试验是在使用寿命其中进行
在整个使用寿命期内，在同一工作期限内，产品的随机失效的概率使相同的，失效率不受时间和年龄影响
产品在不同的寿命期内作可靠性试验时，其实小雨时间关系曲线的特征是不一样的，相应的可靠度函数也是不一样的。


可靠性试验原理
模拟现场工作条件和环境条件，将各种工作模式及环境应力按照一定的时间比例，按一定的循环次序反复施加到受试产品上，经过失效的分析机处理，将得到的信息反馈到设计、制造、材料和管理等部门进行改进，以提高产品的固有可靠性。





加速寿命试验
寿命试验 是在 储存或工作条件下确定寿命的统计平均的试验。
加速寿命试验是把工作环境里的规定应力（例如：电压、结温等）作为参数来观察失效和预计实际工作状态下的失效率。
基本理论：通过加速寿命试验与失效物理的有机联系来发挥加速寿命试验的有效性。即器件的失效时因无力和化学反应所致，而应力因子的大小有决定反应速度，这就是反应速度论。
阿列尼乌斯模型: 半导体器件加速寿命模型中最常用的。适合以热力学温度加速的试验。lnL=A+E/(RT) L—寿命；A—常数；E—激活能(Kcal/mol);T—热力学温度(K);R—气体常数(1.98610-3 Kal/mol*deg)
注意：加速寿命试验时，为了能有效的进行可靠性评价，要求失效模式和失效机理不会因加速而发生变化。
计数一次抽样表 MIL-S-18500E
失效率是指产品工作到t时刻后的单位时间内发生失效的概率。
GB1772-79《电子元器件失效率试验方>,单位用1/小时
失效率 常用来评价器件经过寿命试验后的结果。一般讲，失效率λ也是时间的函数。但当失效率服从指数分布时，失效率为一定值，与时间无关。


置信度：可靠性验证试验方法都是在统计抽样的基础上测定的，那么试验结果就有一个置信度的问题，置信度即 试验结果是“正确的”的概率。
统计试验方案中置信度为：产品的真实失效率等于被鉴定等级的最大失效率时而被判为不合格的概率。
失效验证试验是按总试验时间截尾(即定时截尾)的抽样试验方案，它规定在受试样品的累计试验时间达到T时停止试验。对元器件可靠性试验而言，抽取n个样品，
在一定的应力条件下试验到规定的总试验时间T停止，以失效判据为依据，观察到的失效元件数是r,再根据抽样方案判定是否合格。




长期寿命试验
长期储存寿命试验
把电子产品在规定的环境条件下非工作状态的存放试验称为储存寿命试验，1000小时以上的称为长期寿命试验
目的：了解产品在特定环境下储存的可靠性。（元器件装配成整机前，可能要储存数年或更长的时间)
对预测元器件和整机的储存可靠性很有价值。
长期工作寿命试验
电子产品在规定的工作及环境条件下进行的寿命试验称为工作寿命试验，1000小时以上的称为长期工作寿命试验。又分为连续工作寿命试验和间断工作寿命试验。
要了解产品的储存寿命，需施加一定的环境应力；
要了解产品的工作寿命，需施加一定的电负荷和环境应力