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关于破坏性测量系统分析的计算问题

求教,AIAG《测量系统分析参考手册》第四版描述破坏性测量系统分析时(S3情景),总的方差=过程的方差+测量系统的方差。这个过程的方差具体怎么求?在实际计算中,怎么和测量系统的方差区别开来?
公式:σ*2总=σ*2过程+σ*2测量系统
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赞同来自: Xiaolin19

用方差分解计算
 
总的方差就是所有测试数据的方差
 
测量系统的方差=重复性方差+再现性方差(破坏性试验没有交互作用方差)
 
过程的方差=总的方差-测量系统的方差

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