关于CPK 偏移量的关系

请问如何理解“由于偏离程度不同，与同一个Cpk对应的工艺不合格率并不相同（相关图片见附件）”以及“对具有双侧规范要求的工序，比较不同生产线工艺水平高低时就不能只根据Cpk的高低而定”。

我的疑问在于，既然同一工艺则Cpk应仅取决于偏移程度，那么为什么还会出现同一Cpk而偏移程度不同这种情况？

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2 个回复

Lynnzy (威望:0) (浙江宁波) 电子制造工程师 - 刨根问底

赞同来自: 年少有爲、杨格_Alan 、huangxi李斌

这个问题个人理解如下：从Cpk的计算公式来看，对于双规格限的过程，Cpk={（μ-LSL）/3σ，（USL-μ）/3σ}min；这个公式中可以明确知道，规格限的数值是固定的，而μ、σ两个值随过程的能力变化而变化；因此当Cpk相等时μ、σ不一定相等，假设两条相同工艺的线体Cpk相等，其中μ1=M（规格中心）＜μ2，这种情况下σ1必然小于σ2，也就是说线体2的数据分布散度要小于线体1，但是数据分布的中心偏离了M，正态分布曲线的右端相比线体1超出规格上限的概率更大，不良率会增加；基于此，在Cpk的基础上又引出了Cpm、Cpmk的概念，这两个指标更灵敏的反映了过程分布中心向M靠近的重要性；希望对你有所帮助；