關於CPK>3時﹐USL與LSL的確認
我們公司在使用SPC管制時﹐發現有一個現象。
射出產品一個尺寸的CPK>3﹐這樣會造成尺寸σ很小(CP大)﹐於是便產生USL與LSL相差很小﹐管制規格很嚴。經常造成產品跑出管制線。
目前我們的做法是取規格值的4/5作管制上下限﹐但是我一直找不到理論依據來支持。
請教各位大大﹐這樣做合適嗎﹖另外﹐如果是單邊規格﹐又該怎樣辦呢(4/5的SPEC要麼是上限﹐要麼是下限)﹖
謝謝﹗
射出產品一個尺寸的CPK>3﹐這樣會造成尺寸σ很小(CP大)﹐於是便產生USL與LSL相差很小﹐管制規格很嚴。經常造成產品跑出管制線。
目前我們的做法是取規格值的4/5作管制上下限﹐但是我一直找不到理論依據來支持。
請教各位大大﹐這樣做合適嗎﹖另外﹐如果是單邊規格﹐又該怎樣辦呢(4/5的SPEC要麼是上限﹐要麼是下限)﹖
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射出產品一個尺寸的CPK>3﹐這樣會造成尺寸σ很小(CP大)﹐於是便產生UCL與LCL相差很小﹐管制規格很嚴。經常造成產品跑出管制線。
目前我們的做法是取規格值的4/5作管制上下限﹐但是我一直找不到理論依據來支持。
請教各位大大﹐這樣做合適嗎﹖另外﹐如果是單邊規格﹐又該怎樣辦呢(4/5的SPEC要麼是上限﹐要麼是下限)﹖
謝謝﹗