[推荐]Z 分 佈

Z 分 佈
功 能 : 可提供瞭解製程的變異與不穩定趨勢,預先提出改善預防.
Z =規格值 - 全部數據的平均值( X )/σ (Sigama)
以上X, σ 值與 X - R 管制圖之值相同
Z 分 佈 例子說明:
假設:X =0.8312 R =0.01435 d2 =2.326
步驟 1.用X - σ 管制圖 或 X - R 管制圖找出自然管制上下管制界限
σ =R/d2=0.00617
UCL = X + 3 σ =0.8312 + 3 x 0.00617 = 0.8497
LCL = X - 3 σ = 0.8312 - 3 x 0.00617 = 0.8127
步驟 2.計算出UCL / LCL 超出規格上下限所佔之比率
Z (UCL) =規格上限 - 0.8312/σ=1.426
由Z分佈表查知 1.426 所佔面積約 0.423 = 42.3%
超出規格上限的不良比率 : 50% - 42.3% = 7.7%
Z (LCL) =規格下限 - 0.8312/σ=-1.8152
由Z分佈表查知 1.8152 所佔面積約 0.4653 = 46.53%
超出規格下限的不良比率 : 50% - 46.53% = 3.47%
步驟 3.將超出規格上下限的不良比率相加即等於製程不良率
製程不良率 = 7.7% + 3.47% = 11.17% (估計值)